测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置HS编码 903082
Instruments and apparatus; for measuring or checking semiconductor wafers or devices (including integrated circuits)
层级：6 位（HS子目）
下级子目（1 条）
| 编码 | 商品名称 | 最惠国 | 退税率 |
|---|---|---|---|
| 90308200 | 测试或检验半导体晶圆或器件（包括集成电路）用仪器及装置 | — | — |
上级编码
9030示波器、频谱分析仪及其他用于电量测量或检验的仪器和装置，但不包括品目9028的各种仪表；α射线、β射线、γ射线、X射线、宇宙射线或其他粒子射线的测量或检验仪器及装置
数据来源：中国海关进出口税则（HS2022 口径）。税率、监管条件与申报要素仅供参考， 实际报关以海关最新公布税则、归类决定及预裁定为准。