制造半导体器件（包括集成电路）时检验半导体晶圆、器件（包括集成电路）或检测光掩模及光栅用的光学仪器及器具HS编码 90314100
Optical instruments for inspecting semiconductor wafers, devices, masks or gratings
层级：8 位（中国税目）
下级子目（1 条）
| 编码 | 商品名称 | 最惠国 | 退税率 |
|---|---|---|---|
| 9031410000 | 制造半导体器件时检验半导体晶圆、器件或检测光掩模或光栅用的仪器和器具 | 0% | 13% |
数据来源：中国海关进出口税则（HS2022 口径）。税率、监管条件与申报要素仅供参考， 实际报关以海关最新公布税则、归类决定及预裁定为准。